第10章 芯片測試2_芯片產業帝國_思兔 
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第10章 芯片測試2(1 / 1)

芯片產業帝國!

用eda軟件rotel設計完成cb板,交給cb板廠製造後,李飛就忙著去華強北采購電阻電容,變容二極管等電子器件,以及焊接工具,恒溫絡鐵,錫線,

然後,用cad圖畫出2d結構圖,給模具廠進行收音機外殼打樣,這也是為後續組裝收音機成品而進行產品推銷的。

再從家具辦公市場上,又買了幾張辦公桌子,為後續的芯片測試機器測試工作桌子。

就這樣貸款的三百萬美金很快就花完了,

看來是必須加速f芯片上市,讓f芯片早點變現,早點完成原始資金的積累。

三周的時間很快就過去,從台極電生產的f芯片樣品從香巷轉到大深市,f芯片達到了李飛的手中,

f芯片樣品有兩種封裝規格,一種是貼片式,另一種是插件式封裝,各50片,

同時,從cb板廠生產的cb也到了李飛的手中,

那麼,有了芯片,電阻電容,變容二極管,cb板,可以正式手動焊接,進行f收音機組裝,先對f芯片的功能簡單的測試。

需要說明的是,在李飛設計這款f芯片過程中,是進行大量地仿真測試,功能上基本沒有問題,

再加上李飛重生前是資深芯片工程師,對芯片設計有著豐富的經驗。

所以,李飛按照eda軟件仿真的數據以及芯片設計經驗,對芯片外圍器件,電阻,電容的數值進行調整,就可以達到在設計產品之前所製定的功能要求。

把f芯片,電阻,電容,變容二極管焊接在cb,以及確定了電阻,電容的數值後,可以對f芯片功能正式測試,

那麼,這款f芯片收音功能測試步驟

f芯片接通15v5v的電源後,芯片開始進入工作模式,當外圍器件按鍵通過一個變容二極管連接到f芯片的管腳上,隻要輕輕地按上按鍵,f芯片進行內部自動搜索電台,

當搜到f電台後,並立即鎖定電台,

如果收聽的f廣播電台內容是不喜歡,可以再次按下按鍵,f芯片再次進行內部自動搜索廣播電台,搜到f電台後,又立即鎖定電台,

且繼續是不喜歡廣播電台內容,再按照以上的步驟進行操作,直到搜索出喜歡廣播電台節目,

就這樣,f芯片是通過外圍按鍵完成廣播電台的自動搜索,這樣的操作十分簡單方便,不像普通收音機的渦輪式旋轉鈕,操作時需要反複調整,才能確定頻率,達到滿意收聽效果。

除了f芯片外接搜索按鍵功能,還有外接一個複位按鍵功能,其作用是對對電台搜索過程中,複位到最先開始的收聽頻段,

f收音機的收聽頻率是76hz~108hz,

李飛設計這一款f芯片,能收到大約30個f廣播電台,其音值是清晰立體聲的效果,即使在密封的環境內,或者在公共汽車上,f收到的廣播電台絲毫不受到乾擾,收聽效果非常好。

可以說收音機的靈敏度非常高,f芯片抗乾擾能力強,並且耗電電流低,一個7號電池,可以連續工作五天五夜(在正常收聽和正常音量的前提條件下,比競爭對手ny的fa芯片cax1019,以及飛利浦f芯片tda7088t和國內收音機芯片yr060,,在用電功耗上少一半),

這也是os工藝的好處,耗電電流低,抗乾擾能力強!

不過,在1996年市場上,國內袖珍式收音機除了使用雙極ttl工藝的f芯片外,還大量地用分立器件進行組裝收音機。例如三極管和二極管,電阻,電容,並且內部自帶天線,

這類收音機功耗非常大,通常用的是5號大電池,在收音機連續測試下,不會超過三天三夜。

收音的效果也不太好,靈敏度很低,抗乾擾能力弱,收到廣播電台很少,

另外,由於元器件比較多的原因,無論從生產還是從收音機產品測試上,以及維修上,需要大量的人力去完成,這無疑對生產商增加了額外的成本。

根據以上的數據參考,李飛設計這一款f芯片是主打的是高性能,低價格,組裝方便,一站式解決方案

收音機電子器件不超過10個,一個芯片ic,7個外圍電子器件(電阻,電容,變容二極管),還有兩個結構按鍵(鍋仔片)。

再加上外圍結構器件耳機線,耳機插座,一副塑料殼子,三個螺絲,

可以說,李飛研發這款袖珍式收音機,無論從成品組裝,成品測試,以及生產維修上,都非常簡單,非常適合大批量生產,

另外,這款f芯片是高度集成,去掉了f專用天線,改用耳機線作為f天線,這樣即可以為收音機節省麵積,也可以節省成本。

對f芯片進行一般收音功能測試確認合格後,來自於米國芯片測試機器,ate測試機器,已經達到李飛的辦公室了,

在21世紀,經過ate廠商不斷地收購合並,ate廠商在世界上隻剩下兩家愛德萬和泰瑞達,

愛德萬ate測試機器主要市場是c,部分高速,rf,ic,,ic和部分c,但ate測試機器總類比較多,因為泰瑞達收購了很多公司,把他們的ate測試機器也一起接收了。

為了後續的芯片技術測試服務,李飛直接購買了泰瑞達ate測試機器,

ate測試機器的目的是對芯片設計和芯片製造的測試。

因為從eda軟件生成的隻是一個版圖文件,交給芯片製造工廠製造,也就是芯片製造工廠根據你的版圖文件做成芯片,過程中可能出現缺陷,這個缺陷可能是物理存在的,也可能是設計當中的遺留問題導致的,另外一方麵在封裝的過程也可能出現缺陷,

那麼,就需要對芯片進行測試。

不過,李飛隻對芯片的設計功能和性能進行ate測試,其芯片製造產生的問題,不在測試範圍內(因為芯片生產出來後,芯片製造工廠會進行嚴格地測試,保證交付到客戶(芯片設計公司)的手上都是合格的芯片)。

ate對芯片測試基本的範圍為芯片引腳的連通性測試,芯片漏電流測試,芯片引腳dc直流測試,芯片功能測試,芯片esd靜電測試,芯片老化測試(也就是芯片質量驗證)

以及芯片穩定性測試,在溫度(零下30度和高溫50度)進行測試,確定芯片是否能正常工作…

當然,根據芯片類型還會有一些其他的測試,例如數字電路的邏輯電路測試,



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